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RT-70V系列 四探針法電阻率和方塊電阻手動測量儀

更新時間：2023-08-22      瀏覽次數(shù)：192

使用 JOG 旋鈕輕松操作 ?厚度、溫度、PN 輸入（RT-70V 測試儀）

具有厚度和溫度校正功能（對于硅） 

測量臺

1. RG-7C：電動探針升降自動平臺

1. RG-7C：電動探針升降自動平臺

2. RG-5：帶手動桿的探頭上/下平臺

2. RG-5：帶手動桿的探頭上/下平臺

3. RG-7S：玻璃基板/薄膜樣品的X-Y平臺

3. RG-7S：玻璃基板/薄膜樣品的X-Y平臺

4.TS-7D：手持式探頭型 *可選配載物臺。

4.TS-7D：手持式探頭型 *可選配載物臺。

測量規(guī)格

測量對象

  • 半導體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）

  • 新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）

  • 導電薄膜相關（金屬、ITO等）

  • 擴散樣品

  • 其他（*請聯(lián)系我們）

目標尺寸

*取決于組合測量臺類型。
圓形：最大 300 毫米（12 英寸），方形：最大 730 x 920 毫米。

測量范圍

[電阻率（比電阻）] 1μ ~ 300kΩ cm
[表面電阻] 5m ~ 10MΩ/sq

[電阻率（比電阻）] 1 μ 至 300 kΩ cm
[表面電阻] 5 m 至 10 MΩ/sq

產品尺寸

RT-70V：W250×D330×H130mm
約7kg



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