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日東精工Loresta-GXⅱMCP-T710低電阻電阻儀的特性

更新時間:2025-02-21      瀏覽次數(shù):44

Loresta-GXⅱMCP-T710低電阻電阻儀

低電阻率儀Loresta GX II

Loresta-GX II是一種測量儀器,可測量電阻率,這是材料評估標準之一。

 隨著科學(xué)和技術(shù)的發(fā)展,不僅在研究和開發(fā)方面,而且在生產(chǎn)技術(shù)和質(zhì)量控制方面,以高精度的精度管理材料變得越來越有必要。其中,電阻率(表面,體積,電導(dǎo)率)是材料狀態(tài)和特性的指標。 Loresta-GXⅱ是一種允許您使用校正因子輕松準確測量此電阻率的設(shè)備。

   該設(shè)備根據(jù)JIS K 7194使用測量方法,各種探針允許測量廣泛的材料,包括導(dǎo)電塑料,ITO薄膜和硅晶片。

   與常規(guī)的四末端方法不同,它不需要為測量目標制備電極,并且通過使用我們公司提供的各種四點探針,可以通過一鍵進行電阻率測量。

主要測量目標

■導(dǎo)電塑料,電磁屏蔽材料,硅晶片,導(dǎo)電橡膠,
導(dǎo)電涂料,糊狀,油墨,金屬薄膜,ITO玻璃,膜等


它可以在必要的必要時在低準確性的低電阻區(qū)域測量表面電阻率,體積電阻率(比電阻)和電導(dǎo)率。

  • 與10 -4-107Ω相比,測量范圍增加了,Loresta GP(10 -3-10 7

  • 可以通過更改當(dāng)前方向進行硅晶片測量

  • 可變的常數(shù)電流功能(可以使用小電流進行樣品測量)

  • 2,000個測量結(jié)果可以輸出到USB內(nèi)存

  • 使用觸摸面板改善了可操作性


探針 *GX探針不能連接到GX II。

GX的姓名 /產(chǎn)品縮寫ASP探針 RMH110
和GP ASR探針 RMH501 用于GXⅱ


規(guī)格
:JIS K 7194兼容
引腳距離:5mm
銷釘提示:0.37R x 4
春季壓力:220克/
使用
導(dǎo)電塑料,導(dǎo)電涂料,薄膜等。
特征:
標準探針與JIS K7194兼容。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫

ESP探針 RMH114和GP ESR Probe rmh502
forGXⅱ

規(guī)格
引腳距離:5mm
銷釘提示:φ2mmx 4
春季壓力:230g/    
使用
諸如由碳粉和金屬粉末制成的非均勻標本(尤其是注射模型產(chǎn)品)等
功能
混合在一起 銷釘是直徑為2毫米的平面,使施加電流的流動變得易于流動。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
LSP探針
RMH116和GP LSR探針 RMH503
用于GXⅱ

規(guī)格
引腳距離:5mm
引腳提示:4個球
春季壓力:140克/  
使用柔軟標本的功能,
例如導(dǎo)電橡膠和薄膜上的薄膜 引腳尖的端是球形的,直徑為2毫米,彈簧壓力很弱,因此銷釘很難滑入橡膠中。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫

PSP探針 RMH112和GP PSR探針 RMH504
用于GXⅱ

規(guī)格
引腳距離:1.5mm
銷釘提示:0.26R x 4
春季壓力:95G/
使用
薄膜,小樣品,狹窄的空間
特征
薄膜的標準探針具有薄引腳,距離為1.5毫米。


GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫QP2探針
RMH119和GP QR探針 RMH505

規(guī)格
引腳距離:1.5mm
銷釘提示:0.26R x 4
春季壓力:95G/
使用
特別是對于小標本和狹窄的空間
應(yīng)用
正方形類型。不建議這樣做,因為電阻值約為4串串聯(lián)系列的一半,并且方便的類型不能支持校正系數(shù)。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
BSP探針
RMH111和GP BSR探針 RMH506
forGXⅱ


規(guī)格
引腳距離:2.5mm
銷釘尖的端:0.37R x 4
彈簧壓力:170g/此

應(yīng)用
測量兩個單獨的點之間的測量或前后(層間電阻)之間的測量方法
使用
4個銷釘分為兩個,并使用測試儀與左右手一一測量。 GX II主機使用腳開關(guān)時更方便。

注意:電阻率無法測量


GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫

NSCP探針 RMJ202和GP
NSCR探針
RMH507

規(guī)格
引腳距離:1.0mm
銷釘尖的端:0.04R x 4
春季壓力:250克/
使用僅適用
于硅晶片 銷材料是碳化鎢,帶有尖銳的尖的端和較強的彈簧壓力。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
TFP探針RMJ217
(不可用)

規(guī)格
引腳距離:1.0mm
引腳提示:0.15R x 4
春季壓力:50克/
使用
用于硅晶片或玻璃基板上的薄膜

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
AP2探針
RMH333和GP RMH508
用于GXⅱ

規(guī)格
銷距離:10mm
銷釘尖的端φ2x 2
春季壓力:230g/
使用 這是一種測量值,包括使用兩端方法的接觸電阻,用于
化學(xué)轉(zhuǎn)換涂層,例如表面處理的鋼板和鎂合金,因此電阻值很高。電阻值不正確,因此不會轉(zhuǎn)換為電阻率。它主要進行定性評估。 注意:電阻率無法測量


GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
BP探針
RMH118和GP RMH509
forGXⅱ

規(guī)格
引腳提示:φ2x 2
春季壓力:200G/此
應(yīng)用
2分探針測量目的,用于
在兩個由表面處理的鋼板和鎂合金等分隔的兩個點之間進行測量。這 是一種兩端方法,還包括接觸電阻,因此電阻值很高。電阻值不正確,因此不會轉(zhuǎn)換為電阻率。它主要進行定性評估。 注意:電阻率無法測量


注意:BSR,AR和BR探針可用于僅測量電阻值。

調(diào)查檢查器

名稱 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH304

電阻值
1.0Ω的
應(yīng)用
ASR/ESR/LSR/ASP/ESP/LSP

名稱 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH311

電阻值
1.0ΩPSR /PSP的
應(yīng)用

姓名 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH313


QR/QP2的電阻值1.0Ω
應(yīng)用

名稱 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH312


NSCR/NSCP/TFP的電阻值1.0Ω
應(yīng)用

姓名 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH335

電阻值
1.0Ω的
應(yīng)用
/br/ap/bp的應(yīng)用

名稱 /產(chǎn)品縮寫
腳開關(guān)
RMJ802

應(yīng)用 /規(guī)格
測量開始 /測量端開關(guān)
或開始鎖定解鎖功能

規(guī)格

測量方法恒定當(dāng)前申請方法/四芬德方法
數(shù)據(jù)顯示640 x 480點7.5英寸全彩色TFT LCD觸摸面板
詭計可以設(shè)置上限和下限
探測專用探針ASR,LSR,ESR,PSR,QR,BSR,NSCR,AR,BR
數(shù)據(jù)輸出USB內(nèi)存
電源AC85-264V 47-63Hz
尺寸和體重W320 x D285 x H110mm(W320 x D285 x H200mm打開時)約2.4公斤
標準設(shè)備ASR探針,4針探針檢查器

測量范圍和真實性

恒定電流值
1a100mA10mA1ma100μa10μA
全部的
測量
l

JI
10 -4±(2.0%+30DGT)




10 -3±(2.0%+20DGT)±(2.0%+20DGT)



10 -2±(1.0%+5DGT)±(1.0%+5DGT)±(2.0%+20DGT)


10 -1±(1.0%+3DGT)±(1.0%+3DGT)±(1.0%+5DGT)±(2.0%+20DGT)

10 0
±(0.5%+3DGT)±(0.5%+3DGT)±(1.0%+5DGT)±(2.0%+20DGT)
10 1

±(0.5%+3DGT)±(0.5%+3DGT)±(1.0%+5DGT)±(2.0%+20DGT)
恒定電流值
1ma100μa10μA1μa0.1μa
全部的
測量
l

JI
10 2±(0.5%+3DGT)±(0.5%+3DGT)±(1.0%+5DGT)±(2.0%+20DGT)
10 3
±(0.5%+3DGT)±(0.5%+3DGT)±(1.0%+5DGT)±(2.0%+20DGT)
10 4

±(0.5%+3DGT)±(0.5%+3DGT)±(1.0%+5DGT)
10 5


±(0.5%+3DGT)±(1.0%+3DGT)
10 6



±(1.0%+3DGT)
10 7



±(2.0%+5DGT)


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