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shimadzu元素分析 X射線衍射儀智能實驗SE的介紹配備高分辨率、高速一維X射線探測器。可以在抑制背景水平的情況下進行測量,并且集成的強度效應(yīng)使得檢測痕量成分變得容易。
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shimadzu元素分析 X射線衍射儀智能實驗SE的介紹
shimadzu元素分析 X射線衍射儀智能實驗SE的介紹
搭載凝聚了理學(xué)分析知識的“向?qū)?功能,實現(xiàn)了極的自動化
這是一款全自動多用途 X 射線衍射儀,任何人都可以輕松執(zhí)行各種粉末 X 射線衍射測量,例如粉末樣品的輪廓測量和微小/原位測量。搭載凝聚了理學(xué)的分析知識的“向?qū)?功能,實現(xiàn)了極的自動化。輕松獲得最佳測量結(jié)果。
您可以選擇專用于配備一維探測器的聚焦光學(xué)系統(tǒng)的入門型號,以及配備支持顯微和原位測量的二維探測器的高型號。
無需經(jīng)驗即可進行各種粉末X射線衍射測量
X射線分析綜合軟件具有強大的用戶引導(dǎo)功能,支持從測量到分析。該軟件基于理學(xué)的分析知識,提出最佳光學(xué)系統(tǒng)并自動調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)并設(shè)置測量條件。可以進行范圍廣泛的粉末 X 射線衍射測量,包括粉末輪廓測量和微小/原位測量。
在幾分鐘內(nèi)測量廣角粉末 X 射線衍射圖
配備高分辨率、高速一維X射線探測器。可以在抑制背景水平的情況下進行測量,并且集成的強度效應(yīng)使得檢測痕量成分變得容易。
二維 X 射線衍射測量的擴展世界
配備HyPix-400混合型多維像素探測器的型號支持顯微和原位測量。此外,可以輕松獲得有關(guān)樣品狀態(tài)的信息,例如晶粒尺寸和取向。直到現(xiàn)在才注意到的東西極大地擴展了可以從粉末 X 射線衍射測量中獲得的知識范圍。
支持任何測量場景
光學(xué)系統(tǒng)選擇單元和光學(xué)系統(tǒng)/試樣位置自動調(diào)整程序可實現(xiàn)輕松快速的光學(xué)系統(tǒng)切換。可根據(jù)分析目的和樣品形狀選擇最佳光學(xué)系統(tǒng)和附件。
實現(xiàn)各種應(yīng)用
各種光學(xué)系統(tǒng)配置可用于實現(xiàn)各種應(yīng)用,例如反射法/透射法測量、使用多毛細管的微區(qū)測量、小角度X射線散射測量、殘余應(yīng)力/極圖測量等。自動實現(xiàn)這些光學(xué)系統(tǒng)調(diào)整。
實現(xiàn)具有統(tǒng)一操作性的流暢分析環(huán)境
從分析所需的光學(xué)系統(tǒng)管理和測量等設(shè)備控制到數(shù)據(jù)分析,都可以在一個軟件上完成。光學(xué)傳感、引導(dǎo)功能和流程欄導(dǎo)航等功能大大提高了用戶友好性。
豐富的附件和樣品架
可提供自動6樣品交換器、10樣品自動交換器、毛細管旋轉(zhuǎn)樣品臺、αβ附件、電池單元附件、各種溫度控制附件、通用大氣分離器、非反射樣品架、透射法樣品架等。 .