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jewellinstruments加速度計

jewellinstruments加速度計ASB的介紹
帶寬達(dá) 200 Hz
? IP65 密封
? 可用的 28V 飛機(jī)輸入
? 連接器或引腳配置
? 航空質(zhì)量和可靠性

  • 產(chǎn)品型號:ASB
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2023-04-21
  • 訪  問  量:496
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jewellinstruments加速度計ASB的介紹

jewellinstruments加速度計ASB的介紹



帶寬達(dá) 200 Hz
• IP65 密封
• 可用的 28V 飛機(jī)輸入
• 連接器或引腳配置
• 航空質(zhì)量和可靠性
• 低輸出阻抗
• 高輸入范圍


選項

• 單極輸出
• 28 VDC 輸入,0.2-4.8 VDC 遙測輸出
• 28 VDC 輸入,雙極,非隔離輸出
• 低輸出阻抗
• 可應(yīng)要求提供更低的范圍
• 可提供高達(dá) 1500 弧度/秒2

應(yīng)用

• 天線穩(wěn)定
• 制導(dǎo)控制系統(tǒng)的加速度測量
• 車輛行駛分析
• 光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
• 自動駕駛系統(tǒng)輸入
• 電機(jī)扭矩測量和控制
• 汽車角加速度測試
• (6 自由度)飛行模擬器
• 測功機(jī)測試


SP 系列積分球有一個橫向測量端口,用于測定 2π 配置中的光通量,在該配置中,僅測量正向輻射。如果使用較大的球,還可將樣本固定在球的中心,用于測量 4π 配置中的光通量。因此,可測定所有方向的發(fā)射,并可測量總光通量。

ISP 積分球 – 產(chǎn)品特長 :

  • 在可見范圍內(nèi)達(dá)到 97% 反射率的涂層

  • 盡可能降低老化作用,極低的涂層熒光水平

  • 涵蓋 240 至 2600 nm 的光譜范圍

  • 針對 Instrument Systems 光譜儀產(chǎn)品組合量身定制的理想產(chǎn)品

  • 光譜儀可通過光纜連接

像素缺陷測試

得益于像素移位模式,LumiTop X150 能夠提供每顏色通道高達(dá) 600 MP 的分辨率。通過單像素分析,可以檢查顯示屏各種不同的像素缺陷,如亮度或色差,從而對亮度進(jìn)行像素準(zhǔn)確度校正等。因此,這款新的圖像色度測量儀適合高分辨率生產(chǎn)顯示屏的亞像素準(zhǔn)確度質(zhì)量控制(如 Demura),同樣適用于新顯示屏技術(shù)的研發(fā)。

適合產(chǎn)業(yè)界應(yīng)用

各種產(chǎn)業(yè)界適用鏡頭可用于測試最小的微顯示器、智能手表、手機(jī)、平板電腦和 8K 顯示器。無論樣本采用何種顯示屏技術(shù),都可使用 LumiTop X150。


DSP 200 – 產(chǎn)品特長:


  • 照明度和光強(qiáng)度分布的超快速測角實驗室測量

  • 0.1 mlx(顯示屏分辨率)至 200 klx 的寬測量范圍

  • 由于探測器冷卻功能而擁有出色的穩(wěn)定性和低噪聲水平

  • 通過 CAN 總線進(jìn)行系統(tǒng)集成和具有觸摸屏的集成彩色顯示屏

CAS 140D – 產(chǎn)品特長:

  • 200 – 1100nm 都有相應(yīng)型號

  • 具有冷卻性能的“薄型背照式"探測器,用于最小暗電流

  • 具有強(qiáng)雜散光抑制的光譜儀

  • 4 ms 至 65 s 的積分時間

  • 配件自動識別

  • 綜合性 SpecWin Pro 光譜軟件

  • 高精度測量關(guān)聯(lián)色溫 (CCT) 和顯色指數(shù) (CRI)

  • 標(biāo)準(zhǔn)色度坐標(biāo)上僅 ±0.0015 的可追溯測量不確定性

  • 額外雜散光校正(可選)

面向 LED、照明設(shè)備或顯示屏的一體化系統(tǒng)

CAS 140D 是 Instrument Systems 系統(tǒng)解決方案中的重要測量儀器。輔以功能強(qiáng)大的軟件包(SpecWinPro、LumiSuite)、積分球、測角儀、圖像色度測量儀和廣泛配件,我們針對任何測量挑戰(zhàn)提供最合適的一體化系統(tǒng),按照您行業(yè)的當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)量身定制。

無論是需要對個別 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 產(chǎn)品執(zhí)行輻射或光度測量,還是需要評估基于 LED、OLED 或 µLED 的顯示屏 – CAS 140D 適用于所有想得到的光度應(yīng)用以及最新實驗室和生產(chǎn)挑戰(zhàn)







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