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您的位置:首頁  -  產(chǎn)品中心  -  儀表,電子設(shè)備  -  美國  -  BLUEWAVE美國microtrac粒徑分析儀

美國microtrac粒徑分析儀

美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE
性能指標(biāo)
1.三激光,藍(lán)/紅,多探測器,多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.真藍(lán)光激光器(非LED)
3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正Mie計算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù),幾乎不需要操作員干預(yù)

  • 產(chǎn)品型號:BLUEWAVE
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-11-06
  • 訪  問  量:154
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美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE

性能指標(biāo)

1.三激光,藍(lán)/紅,多探測器,多角度光學(xué)系統(tǒng)

2.真藍(lán)光激光器(非LED)

3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正Mie計算的算法

4.測量范圍從0.01到2800微米

5.干濕測量

6.封閉的光路可確保對光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù),幾乎不需要操作員干預(yù)

優(yōu)點

1.利用藍(lán)激光,低端范圍測量的分辨率得以提高,從而顯著提高了低于1微米的測量精度。

2.專有的修正Mie理論計算使用戶能夠準(zhǔn)確測量其他粒度分析儀難以準(zhǔn)確表征測量的非球形顆粒

3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時間

4.固定的撿測器可提供堅固的耐用性并確保光學(xué)系統(tǒng)的正確位置

5.小巧的占用面積減少了對寶貴實驗室空間的需求

美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE

性能指標(biāo)

1.三激光,藍(lán)/紅,多探測器,多角度光學(xué)系統(tǒng)

2.真藍(lán)光激光器(非LED)

3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正Mie計算的算法

4.測量范圍從0.01到2800微米

5.干濕測量

6.封閉的光路可確保對光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù),幾乎不需要操作員干預(yù)

優(yōu)點

1.利用藍(lán)激光,低端范圍測量的分辨率得以提高,從而顯著提高了低于1微米的測量精度。

2.專有的修正Mie理論計算使用戶能夠準(zhǔn)確測量其他粒度分析儀難以準(zhǔn)確表征測量的非球形顆粒

3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時間

4.固定的撿測器可提供堅固的耐用性并確保光學(xué)系統(tǒng)的正確位置

5.小巧的占用面積減少了對寶貴實驗室空間的需求

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