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您的位置:首頁  -  產(chǎn)品中心  -  儀表,電子設(shè)備  -  日本  -  F601日本fujifilm 小型激光干涉儀

日本fujifilm 小型激光干涉儀

日本fujifilm 小型激光干涉儀F601
非接觸式判斷各種球形物體合格/不合格 緊湊而獨的特的對準(zhǔn)機(jī)制使您能夠快速找到反射光,從而減少測量時間。
1.φ60mm高精度平板(玻璃、金屬、陶瓷等)的平面度測量和透射波前測量。
2.通過與光束壓縮器(2倍放大鏡頭)組合使用,甚至可以測量小物體(約φ5mm至φ25mm)。
3.如果要測量低反射率(約0.1%)的被攝體,可修改為超低反射率測量。

  • 產(chǎn)品型號:F601
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-10-29
  • 訪  問  量:101
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日本fujifilm 小型激光干涉儀F601 

緊湊而獨的特的對準(zhǔn)機(jī)制使您能夠快速找到反射光,從而減少測量時間。

1.φ60mm高精度平板(玻璃、金屬、陶瓷等)的平面度測量和透射波前測量。

2.通過與光束壓縮器(2倍放大鏡頭)組合使用,甚至可以測量小物體(約φ5mm至φ25mm)。

3.如果要測量低反射率(約0.1%)的被攝體,可修改為超低反射率測量。

主要規(guī)格

光源

氦氖激光器(1類激光產(chǎn)品)

波長

632.8nm

格式

斐索型干涉法

有效光通量直徑

φ60mm

測量靈敏度

λ/2(0.3μm/條)

參考面精度

λ/20

放大

×1

尺寸

約300×320×590mm

日本fujifilm 小型激光干涉儀F601 

緊湊而獨的特的對準(zhǔn)機(jī)制使您能夠快速找到反射光,從而減少測量時間。

1.φ60mm高精度平板(玻璃、金屬、陶瓷等)的平面度測量和透射波前測量。

2.通過與光束壓縮器(2倍放大鏡頭)組合使用,甚至可以測量小物體(約φ5mm至φ25mm)。

3.如果要測量低反射率(約0.1%)的被攝體,可修改為超低反射率測量。

主要規(guī)格

光源

氦氖激光器(1類激光產(chǎn)品)

波長

632.8nm

格式

斐索型干涉法

有效光通量直徑

φ60mm

測量靈敏度

λ/2(0.3μm/條)

參考面精度

λ/20

放大

×1

尺寸

約300×320×590mm


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